Identification of the VAl-ON defect complex in AlN single crystals

J.-M. Mäki*, I. Makkonen, F. Tuomisto, A. Karjalainen, S. Suihkonen, J. Räisänen, T.Yu. Chemekova, Yu.N. Makarov

*Tämän työn vastaava kirjoittaja

Tutkimustuotos: LehtiartikkeliArticleScientificvertaisarvioitu

44 Sitaatiot (Scopus)
208 Lataukset (Pure)

Sormenjälki

Sukella tutkimusaiheisiin 'Identification of the VAl-ON defect complex in AlN single crystals'. Ne muodostavat yhdessä ainutlaatuisen sormenjäljen.

Chemical Compounds

Engineering & Materials Science

Physics & Astronomy