High resolution laser-interferometric probing of SAW devices

J.V. Knuuttila, P. Tikka, T. Thorvaldsson, K. Hashimoto, M.M. Salomaa

    Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/konferenssijulkaisussaConference contributionScientificvertaisarvioitu

    5 Sitaatiot (Scopus)
    AlkuperäiskieliEnglanti
    Otsikko1998 IEEE Ultrasonics Symposium, Sendai, Japan, October 5-8, 1998
    ToimittajatS.C. Schneider, M. Levy, B.R. McAvoy
    JulkaisupaikkaPiscataway
    KustantajaIEEE
    Sivut235-238
    TilaJulkaistu - 1999
    OKM-julkaisutyyppiA4 Artikkeli konferenssijulkaisuussa

    Tutkimusalat

    • laser-interferometric probing
    • SAW

    Siteeraa tätä