Genetic algorithm using independent component analysis in x-ray reflectivity curve fitting of periodic layer structures

Jouni Tiilikainen, Vesa Bosund, Juha-Matti Tilli, Jaakko Sormunen, Marco Mattila, Teppo Hakkarainen, Harri Lipsanen

    Tutkimustuotos: Lehtiartikkeli › Article › Scientific › vertaisarvioitu

    15 Sitaatiot (Scopus)

    Sormenjälki

    Sukella tutkimusaiheisiin 'Genetic algorithm using independent component analysis in x-ray reflectivity curve fitting of periodic layer structures'. Ne muodostavat yhdessä ainutlaatuisen sormenjäljen.

    Computer Science

    Biochemistry, Genetics and Molecular Biology

    Material Science

    Chemistry