Frequency-tuned microwave diagnostics based on enhanced scattering

O. Dumbrajs, J. Heikkinen, K. Novik, A. Piliya, K. Sarparanta, S. Sipilä

Tutkimustuotos: TyöpaperiWorking paperProfessional

AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut1240-1243
TilaJulkaistu - 1994
OKM-julkaisutyyppiD4 Julkaistu kehittämis- tai tutkimusraportti taikka -selvitys

Julkaisusarja

Nimi21st EPS Conference on Controlled Fusion and Plasma Physics, Montpellier, France, June 27 - July 1, 1994
KustantajaThe European Physical Society

Tutkimusalat

  • Fusion
  • Microwave scattering
  • Plasma diagnostics

Siteeraa tätä