| Alkuperäiskieli | Englanti |
|---|---|
| Julkaisupaikka | Germany |
| Sivut | 869-870 |
| Tila | Julkaistu - 1995 |
| OKM-julkaisutyyppi | D4 Julkaistu kehittämis- tai tutkimusraportti taikka -selvitys |
Tutkimusalat
- synchrotron X-ray topography, semiconductors
Siteeraa tätä
- APA
- Author
- BIBTEX
- Harvard
- Standard
- RIS
- Vancouver