Fast Wafer-Level Characterization of Silicon Photodetectors by Photoluminescence Imaging

Hussein Ayedh*, Wisa Förbom, Juha Heinonen, Ismo T. S. Heikkinen, Marko Yli-Koski, Ville Vähänissi, Hele Savin

*Tämän työn vastaava kirjoittaja

Tutkimustuotos: LehtiartikkeliArticleScientificvertaisarvioitu

3 Sitaatiot (Scopus)
117 Lataukset (Pure)
Suodatin
Päättynyt

Hakutulokset