Fast Wafer-Level Characterization of Silicon Photodetectors by Photoluminescence Imaging

Hussein Ayedh*, Wisa Förbom, Juha Heinonen, Ismo T. S. Heikkinen, Marko Yli-Koski, Ville Vähänissi, Hele Savin

*Tämän työn vastaava kirjoittaja

Tutkimustuotos: LehtiartikkeliArticleScientificvertaisarvioitu

5 Sitaatiot (Scopus)
269 Lataukset (Pure)

Sormenjälki

Sukella tutkimusaiheisiin 'Fast Wafer-Level Characterization of Silicon Photodetectors by Photoluminescence Imaging'. Ne muodostavat yhdessä ainutlaatuisen sormenjäljen.

Physics

Chemistry

Material Science

Engineering