Fast Kelvin-probe Type Method for Measuring the Built-in voltage Inside Clodes Cavity MEMS-devices

Mika Koskenvuori, V-P Rytkönen, Pekka Rantakari, Ilkka Tittonen

    Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/konferenssijulkaisussaConference article in proceedingsScientificvertaisarvioitu

    AlkuperäiskieliEnglanti
    OtsikkoICMAT 2007, Singapore, 1-6 July 2007
    Sivut122-125
    TilaJulkaistu - 2007
    OKM-julkaisutyyppiA4 Artikkeli konferenssijulkaisussa

    Tutkimusalat

    • built-in voltage
    • contact potential
    • Kelvin-probe
    • micromechanics
    • stability
    • vibrating capacitor

    Siteeraa tätä