Fast ion effects during test blanket module simulation experiments in DIII-D

G.J. Kramer, B. Budny, R. Ellis, W.W. Heidbrink, T. Kurki-Suonio, R. Nazikian, A. Salmi, M. Schaffer, K. Shinohara, J. Snipes, D. Spong, T. Koskela, M. Van Zeeland

Tutkimustuotos: TyöpaperiWorking paperProfessional

AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut1-8
TilaJulkaistu - 2010
OKM-julkaisutyyppiD4 Julkaistu kehittämis- tai tutkimusraportti taikka -selvitys

Tutkimusalat

  • diii-d
  • fast ion
  • tbm
  • tokamak

Siteeraa tätä