Extreme Path Delay Estimation of Critical Paths in Within-Die Process Fluctuations Using Multi-Parameter Distributions

Miikka Runolinna*, Matthew Turnquist, Jukka Teittinen, Pauliina Ilmonen, Lauri Koskinen

*Tämän työn vastaava kirjoittaja

Tutkimustuotos: Lehtiartikkeli › Article › Scientific › vertaisarvioitu

3 Sitaatiot (Scopus)
77 Lataukset (Pure)

Sormenjälki

Sukella tutkimusaiheisiin 'Extreme Path Delay Estimation of Critical Paths in Within-Die Process Fluctuations Using Multi-Parameter Distributions'. Ne muodostavat yhdessä ainutlaatuisen sormenjäljen.

Earth and Planetary Sciences

Computer Science

Mathematics

Engineering

Physics