Experimental determination of secondary fluorescence range

E. Heikinheimo, E. Valovirta, X. Llovet

    Tutkimustuotos: TyöpaperiWorking paperProfessional

    AlkuperäiskieliEnglanti
    JulkaisupaikkaPraha
    Sivut230
    TilaJulkaistu - 2000
    OKM-julkaisutyyppiD4 Julkaistut kehitykset tai tutkimusraportit tai tutkimukset

    Julkaisusarja

    Nimi4th Regional Worksop of EMAS, Electron probe microanalysis in materials science - Practical aspectes, Trest, Czech Republic, 17-20 May, 2000
    KustantajaEuropean Microbeam Analysis Society

    Tutkimusalat

    • electron probe microanalysis
    • phase boundaries
    • secondary fluorescence

    Siteeraa tätä