Evaluation of critical thickness of GaP0.98N0.02 layer on GaP substrate by synchrotron X-ray diffraction topography

Henri Jussila, Nagarajan Subramaniyam, Sakari Sintonen, Sami Suihkonen, Aapo Lankinen, Teppo Huhtio, Carsten Paulmann, Harri Lipsanen, Turkka Tuomi, Markku Sopanen

Tutkimustuotos: LehtiartikkeliArticleScientificvertaisarvioitu

2 Sitaatiot (Scopus)
AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut680-684
Sivumäärä5
JulkaisuThin Solid Films
Vuosikerta534
DOI - pysyväislinkit
TilaJulkaistu - 1 toukokuuta 2013
OKM-julkaisutyyppiA1 Julkaistu artikkeli, soviteltu

Laitteet

OtaNano

Anna Rissanen (Manager)

Aalto-yliopisto

Laitteistot/tilat: Facility

  • Siteeraa tätä