Evaluation of critical thickness of GaP0.98N0.02 layer on GaP substrate by synchrotron X-ray diffraction topography

Henri Jussila, Nagarajan Subramaniyam, Sakari Sintonen, Sami Suihkonen, Aapo Lankinen, Teppo Huhtio, Carsten Paulmann, Harri Lipsanen, Turkka Tuomi, Markku Sopanen

Tutkimustuotos: LehtiartikkeliArticleScientificvertaisarvioitu

3 Sitaatiot (Scopus)
AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut680-684
Sivumäärä5
JulkaisuThin Solid Films
Vuosikerta534
DOI - pysyväislinkit
TilaJulkaistu - 1 toukok. 2013
OKM-julkaisutyyppiA1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä

Siteeraa tätä