Estimation of Pion Induced Displacement Damage in Silicon

Tutkimustuotos: Työpaperi

Tutkijat

  • M. Huhtinen
  • P. Aarnio

Organisaatiot

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
JulkaisupaikkaHelsinki
TilaJulkaistu - 1993
OKM-julkaisutyyppiD4 Julkaistut kehitykset tai tutkimusraportit tai tutkimukset

Julkaisusarja

NimiReport /Research Institute for High Energy Physics
KustantajaHelsinki University, Research Institute for High Energy Physics
NumeroHU-SEFT R 1993-02

    Tutkimusalat

  • pion, radiation damage, semiconductors

ID: 5201327