Estimation of Pion Induced Displacement Damage in Silicon

M. Huhtinen, P. Aarnio

Tutkimustuotos: TyöpaperiWorking paperProfessional

AlkuperäiskieliEnglanti
JulkaisupaikkaHelsinki
TilaJulkaistu - 1993
OKM-julkaisutyyppiD4 Julkaistu kehittämis- tai tutkimusraportti taikka -selvitys

Julkaisusarja

NimiReport /Research Institute for High Energy Physics
KustantajaHelsinki University, Research Institute for High Energy Physics
NumeroHU-SEFT R 1993-02

Tutkimusalat

  • pion
  • radiation damage
  • semiconductors

Siteeraa tätä