Abstrakti
We present a comprehensive study of Ho(Ni0.2Co0.2Fe0.2Mn0.2Cr0.2)O3 high-entropy oxide perovskite thin films. Aside from growth, structural, chemical, and macroscopic magnetic characterization, we performed element-specific, temperature-dependent X-ray absorption spectroscopy (XAS) using X-ray magnetic circular dichroism (XMCD) and X-ray magnetic linear dichroism (XMLD) at all relevant absorption edges. The results indicate predominant ferrimagnetic order with a transition temperature below 150 K and the formation of antiferromagnetic clusters below 50 K.
Alkuperäiskieli | Englanti |
---|---|
Artikkeli | 172673 |
Sivut | 1-6 |
Sivumäärä | 6 |
Julkaisu | Journal of Magnetism and Magnetic Materials |
Vuosikerta | 613 |
Varhainen verkossa julkaisun päivämäärä | 21 marrask. 2024 |
DOI - pysyväislinkit | |
Tila | Julkaistu - 1 helmik. 2025 |
OKM-julkaisutyyppi | A1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä |
Sormenjälki
Sukella tutkimusaiheisiin 'Epitaxial growth and magnetic characterization of orthorhombic Ho(Ni0.2Co0.2Fe0.2Mn0.2Cr0.2)O3 high-entropy oxide perovskite thin films'. Ne muodostavat yhdessä ainutlaatuisen sormenjäljen.Laitteet
-
-
OtaNano Nanomikroskopiakeskus
Seitsonen, J. (Manager) & Rissanen, A. (Other)
OtaNanoLaitteistot/tilat: Facility