Emanation thermal analysis in the characterization of zinc sulfide thin films prepared from different precursors

V. Balek, J. Fusek, O. Kriz, M. Leskelä, L. Niinistö, E. Nykänen, J. Rautanen, P. Soininen

    Tutkimustuotos: LehtiartikkeliArticleScientificvertaisarvioitu

    12 Sitaatiot (Scopus)
    AlkuperäiskieliEnglanti
    Sivut119-124
    JulkaisuJournal of Materials Research
    Vuosikerta9
    TilaJulkaistu - 1994
    OKM-julkaisutyyppiA1 Julkaistu artikkeli, soviteltu

    Tutkimusalat

    • atomic layer epitaxy (ALE)
    • emanation thermal analysis
    • thin films
    • zinc sulfide

    Siteeraa tätä