Electroluminescent cooling using double diode structures

Toufik Sadi, Ivan Radevici, Pyry Kivisaari, Alberto Casado, Jani Oksanen

Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/konferenssijulkaisussaConference article in proceedingsScientificvertaisarvioitu

2 Sitaatiot (Scopus)

Abstrakti

The progress in optical cooling in recent years is resulting in a renewed interest in electroluminescent (EL) cooling using conventional III-V semiconductor light emitting diodes (LEDs). In this work, we address the limiting factors for observing EL cooling in III-As intracavity double diode structures (DDSs), at high powers at and close to 300K, by using a combination of experimental characterization and physical device models. The studied DDSs incorporate optically-coupled III-As LED and p-n homojunction photodiode (PD) structures, integrated in a single device and providing a favourable environment for EL cooling observation. We employ a modelling framework coupling the drift-diffusion charge transport model to a photon transport model calibrated using measurements on real devices at different temperatures. Results suggest that the bulk properties of the III-V materials are already sufficient for EL cooling.

AlkuperäiskieliEnglanti
Otsikko18th International Conference on Numerical Simulation of Optoelectronic Devices, NUSOD 2018
ToimittajatJoachim Piprek, Aleksandra B. Djurisic
KustantajaIEEE
Sivut125-126
Sivumäärä2
Vuosikerta2018-November
ISBN (elektroninen)9781538655993
DOI - pysyväislinkit
TilaJulkaistu - 7 jouluk. 2018
OKM-julkaisutyyppiA4 Artikkeli konferenssijulkaisussa
TapahtumaInternational Conference on Numerical Simulation of Optoelectronic Devices - Hong Kong, Kiina
Kesto: 5 marrask. 20189 marrask. 2018
Konferenssinumero: 18

Conference

ConferenceInternational Conference on Numerical Simulation of Optoelectronic Devices
LyhennettäNUSOD
Maa/AlueKiina
KaupunkiHong Kong
Ajanjakso05/11/201809/11/2018

Sormenjälki

Sukella tutkimusaiheisiin 'Electroluminescent cooling using double diode structures'. Ne muodostavat yhdessä ainutlaatuisen sormenjäljen.

Siteeraa tätä