| Alkuperäiskieli | Englanti |
|---|---|
| Otsikko | ICDS 2015 28th International Conference on Defects in Semiconductors, July 27 - 31, 2015, Espo, Finland |
| Tila | Julkaistu - 2015 |
| OKM-julkaisutyyppi | D3 Artikkeli ammatillisessa konferenssijulkaisussa |
Siteeraa tätä
- APA
- Author
- BIBTEX
- Harvard
- Standard
- RIS
- Vancouver