Effect of strain and grain boundaries on dielectric properties in La0.7Sr0.3MnO3 thin films

Tutkimustuotos: Lehtiartikkelivertaisarvioitu

Tutkijat

Organisaatiot

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut2115-2122
JulkaisuJournal of Materials Science
Vuosikerta48
TilaJulkaistu - 2013
OKM-julkaisutyyppiA1 Julkaistu artikkeli, soviteltu

    Tutkimusalat

  • half-metallic manganites, dielectric properties, metal-insulator transition

ID: 851356