Effect of interface geometry on electron tunnelling in Al/Al2O3/Al junctions

M. Koberidze, A. V. Feshchenko, M. J. Puska, R. M. Nieminen, J. P. Pekola

Tutkimustuotos: LehtiartikkeliArticleScientificvertaisarvioitu

6 Sitaatiot (Scopus)

Hakutulokset