Alkuperäiskieli | Englanti |
---|---|
Sivut | 449-452 |
Sivumäärä | 4 |
Julkaisu | Materials Science Forum |
Vuosikerta | 695 |
DOI - pysyväislinkit | |
Tila | Julkaistu - heinäk. 2011 |
OKM-julkaisutyyppi | A1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä |
Tutkimusalat
- DSC
- EM
- SEM
- silica
- silver nanoparticles
- Stöber method
- UV-vis.
- XRD
Laitteet
-
Raaka-aineiden tutkimusinfrastruktuuri
Karppinen, M. (Manager)
Kemian tekniikan korkeakouluLaitteistot/tilat: Facility