Dirty limit scattering behind the decreased anisotropy of doped YBa2Cu3O7-δ thin films

M. Malmivirta, H. Palonen, S. Inkinen, L. D. Yao, Jussi Tikkanen, H. Huhtinen, R. Jha, V. P S Awana, S. Van Dijken, P. Paturi

Tutkimustuotos: LehtiartikkeliArticleScientificvertaisarvioitu

7 Sitaatiot (Scopus)

Abstrakti

We measured the resistivity of pulsed-laser-deposited BaCeO3 (BCO)-doped YBCO thin films containing spherical BCO particles in fields up to 30 T. The average diameter of the particles depends on the dopant concentration being below 4 nm in all the samples. Raised values of the upper critical field, Bc2, were observed in all the samples. Additionally, the parameter γ, describing the electron mass anisotropy, decreased from 6.2 in the undoped sample to 3.1 in the 8 wt.% BCO-doped sample. These results can be explained by the increased number of defects decreasing the mean free path of electrons and thus lowering the coherence length, which in turn increases Bc2.

AlkuperäiskieliEnglanti
Artikkeli175702
Sivut1-6
Sivumäärä6
JulkaisuJournal of physics: Condensed matter
Vuosikerta28
Numero17
DOI - pysyväislinkit
TilaJulkaistu - 5 huhtikuuta 2016
OKM-julkaisutyyppiA1 Julkaistu artikkeli, soviteltu

Sormenjälki

Sukella tutkimusaiheisiin 'Dirty limit scattering behind the decreased anisotropy of doped YBa<sub>2</sub>Cu<sub>3</sub>O<sub>7-δ</sub> thin films'. Ne muodostavat yhdessä ainutlaatuisen sormenjäljen.

Siteeraa tätä