Diagnostics of density fluctuations by enhanced scattering with frequency-tunable microwave sources

O. Dumbrajs, J. Heikkinen, K. Novik, A. Piliya, K. Sarparanta, S. Sipilä

Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/konferenssijulkaisussaConference contributionScientificvertaisarvioitu

2 Sitaatiot (Scopus)
AlkuperäiskieliEnglanti
Otsikko19th International Conference on Infrared and Millimeter Waves, Sendai, Japan, October 17-21, 1994.
KustantajaThe Japan Society of Applied Physics
Sivut315-316
TilaJulkaistu - 1994
OKM-julkaisutyyppiA4 Artikkeli konferenssijulkaisuussa

Tutkimusalat

  • enhanced scattering
  • plasma diagnostics

Siteeraa tätä