Diagnosis of edge localized mode evolution in DIII-D using fast-gated CID and infrared cameras

M. Groth*, M. E. Fenstermacher, C. J. Lasnier, R. Hernandez, J. M. Moller, R. A. Sturz

*Tämän työn vastaava kirjoittaja

Tutkimustuotos: LehtiartikkeliArticleScientificvertaisarvioitu

15 Sitaatiot (Scopus)

Abstrakti

Diagnosis of edge localized mode evolution in DIII-D was presented using fast-gated CID and infrared cameras. The emission during edge localized modes (ELM) were obtained. The divertor plasma in the model transiently detached with the arrival of the ELM particle pulse so that the CIII emission was expected to be around the X point.

AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut2064-2067
Sivumäärä4
JulkaisuReview of Scientific Instruments
Vuosikerta74
Numero3 II
DOI - pysyväislinkit
TilaJulkaistu - maalisk. 2003
OKM-julkaisutyyppiA1 Julkaistu artikkeli, soviteltu

Sormenjälki

Sukella tutkimusaiheisiin 'Diagnosis of edge localized mode evolution in DIII-D using fast-gated CID and infrared cameras'. Ne muodostavat yhdessä ainutlaatuisen sormenjäljen.

Siteeraa tätä