Determination of thin-film parameters from high accuracy measurements of spectral regular transmittance

Tutkimustuotos: LehtiartikkeliArticleScientificvertaisarvioitu

10 Sitaatiot (Scopus)
AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut200-203
JulkaisuMetrologia
Vuosikerta40
TilaJulkaistu - 2003
OKM-julkaisutyyppiA1 Julkaistu artikkeli, soviteltu

Tutkimusalat

  • optical coatings
  • refractive index

Siteeraa tätä