Determination of thin film parameters from high accuracy measurements of spectral regular transmittance

Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/konferenssijulkaisussaConference contributionScientificvertaisarvioitu

10 Sitaatiot (Scopus)
AlkuperäiskieliEnglanti
OtsikkoNEWRAD2002, Gaithersburg, USA, May 20-24, 2002
JulkaisupaikkaUSA
Sivut78
TilaJulkaistu - 2002
OKM-julkaisutyyppiA4 Artikkeli konferenssijulkaisuussa

Tutkimusalat

  • characterization
  • complex index of refraction
  • thickness
  • thin film

Siteeraa tätä