Determination of lead concentration and film thickness in electroluminescent calcium sulfide thin films by X-ray fluorescence

Tutkimustuotos: Lehtiartikkelivertaisarvioitu

Tutkijat

  • S. Lehto
  • L. Niinistö
  • I. Yliruokanen

Organisaatiot

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut608-611
JulkaisuFresenius' Journal of Analytical Chemistry
Vuosikerta346
TilaJulkaistu - 1993
OKM-julkaisutyyppiA1 Julkaistu artikkeli, soviteltu

    Tutkimusalat

  • film thickness, lead concentration, X-ray fluorescence

ID: 4862715