Defects identification in FeTiO3 using positron annihilation technique

T. P. Jili*, E. Sideras-Haddad, D. Wamwangi, F. Tuomisto, L. Kilanski

*Tämän työn vastaava kirjoittaja

Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/konferenssijulkaisussaConference contributionScientificvertaisarvioitu

Abstrakti

Positron lifetime measurements are conducted in metal oxide material with hexagonal structure, in the temperature range from 30 K to 500 K. The analysis of the positron lifetime spectra is best fitted to two lifetime components. The positron lifetime in a defect-free region ranges from 177 ps to 186 ps in the temperature range. The second lifetime components of localized positron range from 350 ps to 462 ps in the temperature range. The second positron lifetime components are attributed to positron trapping at vacancy complexes. A close analysis of second lifetime components coupled with the fact that annihilation ratios are greater than threshold value of 1.4 suggests a formation of vacancy clusters in the temperature range from about 250 K to 500 K.

AlkuperäiskieliEnglanti
OtsikkoPROCEEDINGS OF SAIP2012: THE 57TH ANNUAL CONFERENCE OF THE SOUTH AFRICAN INSTITUTE OF PHYSICS
ToimittajatJJ VanRensburg
Sivut81-84
Sivumäärä4
TilaJulkaistu - 2012
OKM-julkaisutyyppiA4 Artikkeli konferenssijulkaisuussa
TapahtumaAnnual Conference of the South African Institute of Physics - Pretoria, Etelä-Afrikka
Kesto: 9 heinäkuuta 201213 heinäkuuta 2012
Konferenssinumero: 57

Conference

ConferenceAnnual Conference of the South African Institute of Physics
LyhennettäSAIP
MaaEtelä-Afrikka
KaupunkiPretoria
Ajanjakso09/07/201213/07/2012

Siteeraa tätä

Jili, T. P., Sideras-Haddad, E., Wamwangi, D., Tuomisto, F., & Kilanski, L. (2012). Defects identification in FeTiO3 using positron annihilation technique. teoksessa JJ. VanRensburg (Toimittaja), PROCEEDINGS OF SAIP2012: THE 57TH ANNUAL CONFERENCE OF THE SOUTH AFRICAN INSTITUTE OF PHYSICS (Sivut 81-84)