Defect Detection Efficiency: Test Case Based vs.Exploratory Testing

Juha Itkonen, Casper Lassenius

    Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/konferenssijulkaisussaConference contributionScientificvertaisarvioitu

    48 Sitaatiot (Scopus)
    AlkuperäiskieliEnglanti
    OtsikkoInternational Symposium on Empirical Software Engineering and Measurement (ISESE 2007), Madrid, Sept. 2007
    TilaJulkaistu - 2007
    OKM-julkaisutyyppiA4 Artikkeli konferenssijulkaisuussa

    Julkaisusarja

    Nimi
    ISSN (painettu)1938-6451

    Siteeraa tätä