Defect analysis in Lely grown 6H SiC

M. Tuominen, E. Prieur, R. Yakimova, R. Glass, T. Tuomi, E. Janzen

    Tutkimustuotos: LehtiartikkeliArticleScientificvertaisarvioitu

    14 Sitaatiot (Scopus)
    AlkuperäiskieliEnglanti
    Sivut233-244
    JulkaisuJournal of Crystal Growth
    Vuosikerta165
    TilaJulkaistu - 1996
    OKM-julkaisutyyppiA1 Julkaistu artikkeli, soviteltu

    Tutkimusalat

    • optoelectronics
    • semiconductors

    Siteeraa tätä