Decreasing Interface Defect Densities via Silicon Oxide Passivation at Temperatures Below 450 C

Zahra Jahanshah Rad, Juha-Pekka Lehtiö, Iris Mack, Kawa Rosta, Kexun Chen, Ville Vähänissi, Marko P.J. Punkkinen, Risto Punkkinen, Hannu-Pekka Hedman, Andrei Pavlov, Mikhail V. Kuzmin, Hele Savin, Pekka J. Laukkanen, Kalevi Kokko

Tutkimustuotos: Lehtiartikkeli › Article › Scientific › vertaisarvioitu

7 Sitaatiot (Scopus)
125 Lataukset (Pure)
  • 2 Päättynyt

Hakutulokset

  • Päättynyt

    -: Fotoniikan Tutkimus ja Innovaatio

    Savin, H. (Vastuullinen tutkija), Ayedh, H. (Projektin jäsen), Mulbagal Rajanna, P. (Projektin jäsen), Rauha, I. (Projektin jäsen), Liu, H. (Projektin jäsen) & Vähänissi, V. (Projektin jäsen)

    01/01/2019 → 31/12/2022

    Projekti: Academy of Finland: Other research funding

  • SISUPROCO: Silicon Surface Processing Commercialization

    Savin, H. (Vastuullinen tutkija), Rosta, K. (Projektin jäsen), Vähänissi, V. (Projektin jäsen) & Mack, I. (Projektin jäsen)

    01/06/2018 → 31/12/2019

    Projekti: Business Finland: Other research funding