Decreasing Interface Defect Densities via Silicon Oxide Passivation at Temperatures Below 450 C

Zahra Jahanshah Rad, Juha-Pekka Lehtiö, Iris Mack, Kawa Rosta, Kexun Chen, Ville Vähänissi, Marko P.J. Punkkinen, Risto Punkkinen, Hannu-Pekka Hedman, Andrei Pavlov, Mikhail V. Kuzmin, Hele Savin, Pekka J. Laukkanen, Kalevi Kokko

Tutkimustuotos: Lehtiartikkeli › Article › Scientific › vertaisarvioitu

3 Sitaatiot (Scopus)
60 Lataukset (Pure)
  • 2 Päättynyt

Hakutulokset

  • Päättynyt

    PREIN/Savin

    Savin, H., Ayedh, H., Mulbagal Rajanna, P., Rauha, I., Liu, H. & Vähänissi, V.

    01/01/2019 → 31/12/2022

    Projekti: Academy of Finland: Other research funding

  • SISUPROCO

    Savin, H., Rosta, K., Vähänissi, V. & Mack, I.

    01/06/2018 → 31/12/2019

    Projekti: Business Finland: Other research funding