Damage Observed in Silicon Diodes after Low Energy Pion Irradiation

P. Aarnio, Mika Huhtinen, K. Kaita, P. Ryytty, M. Pimiä, Mikko Laakso, A. Numminen

Tutkimustuotos: TyöpaperiWorking paperProfessional

AlkuperäiskieliEnglanti
JulkaisupaikkaGeneva, Switzerland
TilaJulkaistu - 1994
OKM-julkaisutyyppiD4 Julkaistu kehittämis- tai tutkimusraportti taikka -selvitys

Julkaisusarja

NimiEuropean Laboratory for Particle Physics CERN, Report
KustantajaEuropean Laboratory for Particle Physics CERN
NumeroCMS/TN 94-274

Tutkimusalat

  • Pions
  • Radiation Damage
  • Silicon

Siteeraa tätä