Critical study of contact angle goniometry

Tässä väitöskirjassa tarkastellaan kriittisesti kontaktikulmamittausta kastuvuuden mittausmenetelmänä. Kontaktikulmamittaus on optinen, makroskooppinen menetelmä, jolla on mahdollista saada tietoa pintojen mikroskooppisista ominaisuuksista. Kontaktikulmamittausten tekeminen on suhteellisen helppoa, mutta merkityksellisten tulosten saaminen vaatii sekä mittausteknistä, että teoreettista osaamista. Julkaisu I esittää luotettavan menetelmän vetäytyvän kontaktikulman mittaamiseen. Vastaavuus laskennallisen mallin, teorian ja kokeiden tulosten välillä osoitetaan. Julkaisu II esittelee uuden kasvumallin silikoninanofilamenteille, jotka ovat kuitumaisia, superhydrofobisia nanorakenteita. Malli pyrkii ratkaisemaan syyn rakenteiden yksiulotteiselle kasvulle. Julkaisu III käsittelee kontaktikulmamittaus protokollaa. Protokolla mahdollistaa luotettavasti toistettavat mittaukset, ja antaa ohjeita mittavirheiden minimoimiseen, sekä tulosten käsittelyyn ja tulkintaan. Julkaisussa IV mitataan, kuinka suuren mittavirheen näytteen ja nesteen välisen rajapinnan korkeuden virheellinen määrittäminen aiheuttaa. Erityistä huomiota kiinnitetään virheen eksponentiaaliseen kasvuun, kun mitataan kastumattomia pintoja. Julkaisu V laajentaa julkaisun IV tarkastelua määrittelemällä, kuinka suuret mittavirheet mittauksessa käytetty optinen järjestelmä aiheuttaa.