Controlling Penetration Depth in Projection Stereolithography by Adjusting the Operation Wavelength

P. Lehtinen, S. Laurila, M. Kaivola, Jouni Partanen

Tutkimustuotos: LehtiartikkeliArticleScientificvertaisarvioitu

1 Sitaatiot (Scopus)
AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut756-762
Sivumäärä7
JulkaisuKey Engineering Materials
Vuosikerta611-612
DOI - pysyväislinkit
TilaJulkaistu - 2014
OKM-julkaisutyyppiA1 Julkaistu artikkeli, soviteltu

Tutkimusalat

  • Stereolithography

Siteeraa tätä