Abstrakti
We report positron annihilation spectroscopy measurements revealing the prevalence of VSe-VCu divacancy defects in reactively sputtered ACIGS solar cells. Together with compositional and structural analysis as well as capacitance-voltage measurements, an intricate interplay is observed between divacancies, (Cu+Ag)/III ratio, grain size, and carrier concentration. These properties can be tuned during absorber growth by varying growth temperature and alkali content. Exploiting this interplay may be the key to achieving high efficiency in ACIGS solar cells.
Alkuperäiskieli | Englanti |
---|---|
Otsikko | 2019 IEEE 46th Photovoltaic Specialists Conference, PVSC 2019 |
Kustantaja | IEEE |
Sivut | 3198-3200 |
Sivumäärä | 3 |
ISBN (elektroninen) | 9781728104942 |
DOI - pysyväislinkit | |
Tila | Julkaistu - 1 kesäk. 2019 |
OKM-julkaisutyyppi | A4 Artikkeli konferenssijulkaisussa |
Tapahtuma | IEEE Photovoltaic Specialists Conference - Chicago, Yhdysvallat Kesto: 16 kesäk. 2019 → 21 kesäk. 2019 Konferenssinumero: 46 |
Julkaisusarja
Nimi | Conference Record of the IEEE Photovoltaic Specialists Conference |
---|---|
ISSN (painettu) | 0160-8371 |
Conference
Conference | IEEE Photovoltaic Specialists Conference |
---|---|
Lyhennettä | IEEE PVSC |
Maa/Alue | Yhdysvallat |
Kaupunki | Chicago |
Ajanjakso | 16/06/2019 → 21/06/2019 |