Contactless analysis of surface passivation and charge transfer at the TiO ₂-Si interface

Ramsha Khan, Xiaolong Liu, Ville Vähänissi, Harri Ali-Löytty, Hannu P. Pasanen, Hele Savin^*, Nikolai V Tkachenko^*

^*Tämän työn vastaava kirjoittaja

Tutkimustuotos: Lehtiartikkeli › Article › Scientific › vertaisarvioitu

1 Sitaatiot (Scopus)

13 Lataukset (Pure)

Suodatin

Päättynyt
NIR: Super-sensitive γ/X- and NIR-radiation detectors via defect-free nanostructures: Next Imaging Revolution?
Vähänissi, V. (Vastuullinen tutkija), Savin, H. (Projektin jäsen), Ayedh, H. (Projektin jäsen), Setälä, O. (Projektin jäsen), Radfar, B. (Projektin jäsen), Liu, H. (Projektin jäsen), Terletskaia, M. (Projektin jäsen), Lahtiluoma, L. (Projektin jäsen), Räisänen, S. (Projektin jäsen), Leiviskä, O. (Projektin jäsen) & Gosalvez, S. (Projektin jäsen)
01/09/2020 → 31/08/2024
Projekti: Academy of Finland: Other research funding
FemtoBlack: Femtosecond laser sulfur hyperdoped black silicon for infrared photonic applications
Savin, H. (Vastuullinen tutkija), Yli-Koski, M. (Projektin jäsen), Liu, X. (Projektin jäsen), Setälä, O. (Projektin jäsen) & Radfar, B. (Projektin jäsen)
01/03/2020 → 28/02/2024
Projekti: Business Finland: Strategic centres for science, technology and innovation (SHOK)

Contactless analysis of surface passivation and charge transfer at the TiO 2-Si interface