Siirry päänavigointiin Siirry hakuun Siirry pääsisältöön

Contactless analysis of surface passivation and charge transfer at the TiO 2-Si interface

  • Tampere University

Tutkimustuotos: Lehtiartikkeli › Article › Scientific › vertaisarvioitu

2 Sitaatiot (Scopus)
80 Lataukset (Pure)

Hakutulokset