Alkuperäiskieli | Englanti |
---|---|
Otsikko | Frontiers in Materials Modelling and Design |
Julkaisupaikka | Heidelberg, Germany |
Kustantaja | Springer |
Tila | Julkaistu - 1998 |
OKM-julkaisutyyppi | A3 Kirjan tai muun kokoomateoksen osa |
Computational modelling of atomic-scale defect phenomena in compound semiconductors
R.M. Nieminen, T. Mattila, S. Pöykkö
Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/konferenssijulkaisussa › Chapter › Scientific › vertaisarvioitu