Computational modelling of atomic-scale defect phenomena in compound semiconductors

R.M. Nieminen, T. Mattila, S. Pöykkö

Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/konferenssijulkaisussaChapterScientificvertaisarvioitu

AlkuperäiskieliEnglanti
OtsikkoFrontiers in Materials Modelling and Design
JulkaisupaikkaHeidelberg, Germany
TilaJulkaistu - 1998
OKM-julkaisutyyppiA3 Kirjan osa tai toinen tutkimuskirja

Siteeraa tätä