Comparison of Strain Effect between Aluminum and Palladium Gated MOS Quantum Dot Systems

Brian Chi Ho Mooy, Kuan Tan, Nai-Shyan Lai

Tutkimustuotos: LehtiartikkeliArticleScientificvertaisarvioitu

1 Sitaatiot (Scopus)
46 Lataukset (Pure)

Hakutulokset