Comparison of contact and contactless CV for thin film oxide characterization

Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/konferenssijulkaisussaPosterScientific

AlkuperäiskieliEnglanti
TilaJulkaistu - 22 toukokuuta 2017
OKM-julkaisutyyppiEi oikeutettu
TapahtumaALTECH EMRS Symposium: Analytical techniques for precise characterization of nano materials - Strasbourg, Ranska
Kesto: 22 toukokuuta 201726 toukokuuta 2017

Conference

ConferenceALTECH EMRS Symposium
MaaRanska
KaupunkiStrasbourg
Ajanjakso22/05/201726/05/2017

Laitteet

OtaNano

Anna Rissanen (Manager)

Aalto-yliopisto

Laitteistot/tilat: Facility

  • Siteeraa tätä