Comments on 'De-embedding PCB fixtures for package characterization'

    Tutkimustuotos: LehtiartikkeliArticleScientificvertaisarvioitu

    AlkuperäiskieliEnglanti
    Sivut322
    JulkaisuMicrowave and Optical Technology Letters
    Vuosikerta34
    Numero4
    TilaJulkaistu - 2002
    OKM-julkaisutyyppiA1 Julkaistu artikkeli, soviteltu

    Tutkimusalat

    • calibration
    • de-embedding
    • microwave measurements
    • scattering parameters
    • S-parameters
    • test fixture

    Siteeraa tätä