Chemical Imaging of Patterned Inorganic Thin-Film Structures by Lateral Force Microscopy

M. Utriainen, A. Leijala, L. Niinistö, R. Matero

    Tutkimustuotos: LehtiartikkeliArticleScientificvertaisarvioitu

    10 Sitaatiot (Scopus)
    AlkuperäiskieliEnglanti
    Sivut2452-2458
    JulkaisuAnalytical Chemistry
    Vuosikerta71
    TilaJulkaistu - 1999
    OKM-julkaisutyyppiA1 Julkaistu artikkeli, soviteltu

    Tutkimusalat

    • lateral force microscopy
    • thin film
    • tin dioxide

    Siteeraa tätä