Charged point defects in semiconductors and the supercell approximation

J. Lento, J.-L. Mozos, R.M. Nieminen

Tutkimustuotos: LehtiartikkeliArticleScientificvertaisarvioitu

100 Sitaatiot (Scopus)
AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut2637-2645
JulkaisuJournal of physics: Condensed matter
Vuosikerta14
TilaJulkaistu - 2002
OKM-julkaisutyyppiA1 Julkaistu artikkeli, soviteltu

Tutkimusalat

  • point defect
  • semiconductor
  • supercell

Siteeraa tätä