Characterization of ZnO/AlO x/benzene thin-film heterostructures grown through atomic layer deposition/molecular layer deposition

Fabian Krahl, Yanling Ge, Maarit Karppinen*

*Tämän työn vastaava kirjoittaja

Tutkimustuotos: LehtiartikkeliArticleScientificvertaisarvioitu

4 Sitaatiot (Scopus)

Hakutulokset