Siirry päänavigointiin Siirry hakuun Siirry pääsisältöön

Characterization of thin films for thickness non-uniformity

Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/konferenssijulkaisussa › Conference article in proceedings › Scientific › vertaisarvioitu

AlkuperäiskieliEnglanti
OtsikkoNewrad 2014, Espoo, Finland, June 24-27, 2014
JulkaisupaikkaFinland
TilaJulkaistu - 2014
OKM-julkaisutyyppiA4 Artikkeli konferenssijulkaisussa

Siteeraa tätä