Characterization of thin films based on reflectance and transmittance measurements at oblique angles of incidence

Antti Lamminpää, Saulius Nevas, Farshid Manoocheri, Erkki Ikonen

Tutkimustuotos: LehtiartikkeliArticleScientificvertaisarvioitu

18 Sitaatiot (Scopus)
AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut1392-1396
JulkaisuApplied Optics
Vuosikerta45
TilaJulkaistu - 2006
OKM-julkaisutyyppiA1 Julkaistu artikkeli, soviteltu

Tutkimusalat

  • coatings oblique
  • reflectance
  • transmittance

Siteeraa tätä