Siirry päänavigointiin Siirry hakuun Siirry pääsisältöön

Characterization of the interface and intermediate layers of TiN/Ti/Substrate systems

  • K. Pischow

    Tutkimustuotos: LehtiartikkeliArticleScientificvertaisarvioitu

    AlkuperäiskieliEnglanti
    Sivut211-212
    JulkaisuMicron and Microscopica Acta
    Vuosikerta23
    Numero1/2
    TilaJulkaistu - 1992
    OKM-julkaisutyyppiA1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä

    Tutkimusalat

    • TiN
    • titanium

    Siteeraa tätä