Characterization of the feature-size dependence in Ar/C12 chemically assisted ion beam etching of InP-based photonic crystal devices

A. Berrier, M. Mulot, G. Malm, M. Ostling, S. Anand, A. Talneuau, R. Farrini, R. Houdre

    Tutkimustuotos: LehtiartikkeliArticleScientificvertaisarvioitu

    21 Sitaatiot (Scopus)
    AlkuperäiskieliEnglanti
    Sivut1-10
    JulkaisuJournal of Vacuum Science and Technology. Part B. Microelectronics and Nanometer Structures
    Vuosikerta25
    Numero1
    TilaJulkaistu - 2007
    OKM-julkaisutyyppiA1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä

    Tutkimusalat

    • fotonikide
    • indiumfosfidi
    • nanotekniikka

    Siteeraa tätä