Characterization of Metal-Semiconductor-Metal Photodetectors based on SOI-structures

Katri Honkanen, P. Kuivalainen, H.C. Heyker, L.M.F. Kaufmann

Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/konferenssijulkaisussa › Conference article in proceedings › Scientific › vertaisarvioitu

Alkuperäiskieli	Englanti
Otsikko	1998 IEEE/LEOS Symposium, Gent, Belgia, Nov. 26, 1998
Julkaisupaikka	Belgia
Sivut	129-132
Tila	Julkaistu - 1998
OKM-julkaisutyyppi	A4 Artikkeli konferenssijulkaisussa

Tutkimusalat

@inproceedings{3f0c88635e494993a78bc9dae36c2b00,

title = "Characterization of Metal-Semiconductor-Metal Photodetectors based on SOI-structures",

keywords = "photodetectors, SOI-structures, photodetectors, SOI-structures, photodetectors, SOI-structures",

author = "Katri Honkanen and P. Kuivalainen and H.C. Heyker and L.M.F. Kaufmann",

year = "1998",

language = "English",

pages = "129--132",

booktitle = "1998 IEEE/LEOS Symposium, Gent, Belgia, Nov. 26, 1998",

}

TY - GEN

T1 - Characterization of Metal-Semiconductor-Metal Photodetectors based on SOI-structures

AU - Honkanen, Katri

AU - Kuivalainen, P.

AU - Heyker, H.C.

AU - Kaufmann, L.M.F.

PY - 1998

Y1 - 1998

KW - photodetectors

KW - SOI-structures

KW - photodetectors

KW - SOI-structures

KW - photodetectors

KW - SOI-structures

M3 - Conference article in proceedings

SP - 129

EP - 132

BT - 1998 IEEE/LEOS Symposium, Gent, Belgia, Nov. 26, 1998

CY - Belgia

ER -