Characterization of InGaN/GaN and AlGaN/GaN superlattices by X-ray diffraction and X-ray reflectivity measurements

Tutkimustuotos: Lehtiartikkelivertaisarvioitu

Tutkijat

Organisaatiot

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut1790-1793
Sivumäärä4
JulkaisuPHYSICA STATUS SOLIDI C: CURRENT TOPICS IN SOLID STATE PHYSICS
Vuosikerta7
Numero7-8
TilaJulkaistu - heinäkuuta 2010
OKM-julkaisutyyppiA1 Julkaistu artikkeli, soviteltu

    Tutkimusalat

  • III-V nitides, simulation, superlattices, X-ray refletivity, X-ray scattering

ID: 5565041